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本发明属于质量监测领域，主要涉及一种基于自回归全潜结构投影模型的产品质量监测方法。本发明将输入输出数据投影到四个子空间中，分别是质量变量预测值生成的主元子空间和残差子空间，过程变量残差生成的主元子空间和残差子空间，并建立相应的统计量分别对质...
该专利属于杭州电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过杭州电子科技大学授权不得商用。

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