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治愈非易失性存储器单元的隧穿电介质的结构和方法技术
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下载治愈非易失性存储器单元的隧穿电介质的结构和方法的技术资料
文档序号:8981151
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提供治愈非易失性存储器单元的隧穿电介质的结构和方法。半导体器件包括存储器单元(18)的阵列(12)。每个存储器单元包括隧穿电介质(26)、包括第一电流电极(28)和第二电流电极(30)的阱区域、以及控制栅极(20)。第一和第二电流电极与隧穿...
该专利属于飞思卡尔半导体公司所有,仅供学习研究参考,未经过飞思卡尔半导体公司授权不得商用。
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