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本发明涉及利用计算机断层摄影装置和标准试样的试样孔隙测定系统及其方法，更详细地，利用计算机断层摄影装置，对标准试样和测定试样一同进行断层摄影后，参照在标准试样截面图像中所利用的计数范围和孔隙的灰度级范围，来计算测定试样的截面图像的计数范围内...
该专利属于韩国地质资源研究院所有，仅供学习研究参考，未经过韩国地质资源研究院授权不得商用。

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