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本发明涉及具有电流采样和启动结构的半导体装置，包括第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管和电阻，第一晶体管的漏端连接第二晶体管的漏端、第三晶体管的漏端和所述电阻的一端，第一晶体管的源端接地，所述第一晶体管的栅端连接第二晶体管的栅端，电阻的另一端...
该专利属于苏州博创集成电路设计有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州博创集成电路设计有限公司授权不得商用。

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