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一种频率器件老化率测试装置及测试方法制造方法及图纸
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文档序号:8958652
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本发明公开了一种频率器件老化率测试装置,其包括有计算机、频率计、铷原子频率源及多层测试架,每层测试架上设有器件测试板及测试控制板,所述器件测试板包括有多个器件座,所述测试控制板各自具有唯一的地址码,其中,每个测试控制板包括有一4514译码器...
该专利属于深圳市三奇科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市三奇科技有限公司授权不得商用。
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