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本发明涉及用于X射线微分相位对比成像的箔光栅、用于生成对象的相位对比图像的探测器装备和X射线成像系统、以及制作箔光栅的方法。为了提供具有高纵横比的光栅，提供了一种用于X射线微分相位对比成像的箔光栅（40），所述箔光栅（40）具有X射线吸收材...
该专利属于皇家飞利浦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过皇家飞利浦电子股份有限公司授权不得商用。

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