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本发明的筛选测试机及其测试方法，包括连接在所述微控制单元上的多个测试电路；所述微控制单元分别对目标芯片和测试芯片的管脚输入脉冲激励信号，得到目标芯片在脉冲激励信号下的第一响应曲线，和测试芯片在脉冲激励信号下的第二响应曲线；所述微控制单元通过...
该专利属于方波所有，仅供学习研究参考，未经过方波授权不得商用。

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