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本发明公开了一种采用两个RPN数的故障模式影响及危害性分析方法，具体为：根据预防度和检测度分别打分，得到故障模式严重度和发生度的量化指标，即得到两个风险优先数RPN1和RPN2，其中，RPN1＝O×S×P，RPN2＝O×S×D，所述P为预防...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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