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TDLAS温度校准系统，用于实现对TDLAS温度测量的校准，其特征在于，包括标准传感器温度测量系统和被校准的在真空环境下测量气体温度的TDLAS温度测量系统，所述TDLAS温度测量系统中的光学系统位于恒温槽中，所述光学系统的壳体与所述恒温槽...
该专利属于北京东方计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京东方计量测试研究所授权不得商用。

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