温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种SRAM器件单粒子闭锁效应测试系统及方法，包括上位计算机、下位控制器、SEU测试电路、电流测试电路、闭锁保护电路及电源模块。本发明提供了一种可以单粒子翻转截面及闭锁截面同时获取，减少了实验周期，节约实验成本、测量更为准确、高效...
该专利属于西北核技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过西北核技术研究所授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。