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本发明一种粉体材料电导率与膜电极阻抗的装置及方法，可满足两种测量模式。对于粉体材料电导率测量模式：将制备的粉体压块被测样置于被测样小室，组装模具进行测试，分别获得粉体的电子阻抗和总阻抗，结合阻抗并联公式获得质子阻抗，计算获得电子、质子电导率...
该专利属于北京科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京科技大学授权不得商用。

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