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一种集成电路测试数据的处理方法，根据指定的测试项目、变化量极限及极限单位对任意两份文件进行相应测试项目变化量计算、判别。根据记录的各项参数值，在指定的两份文件里自动进行搜索，生成所有器件相应测试项目变化量总汇报表，并根据极限值进行判断；若有...该专利属于北京时代民芯科技有限公司; 北京微电子技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京时代民芯科技有限公司; 北京微电子技术研究所授权不得商用。