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本发明的半导体装置（101）包括：半导体开关元件（10），具有第1导通电极和第2导通电极；以及电压测量电路（31），用于测量半导体开关元件（10）的第1导通电极与第2导通电极间的电压。电压测量电路（31）包括：二极管元件（11），与半导体开...
该专利属于三菱电机株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三菱电机株式会社授权不得商用。

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