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课题：本发明提供能够实现透镜面的位置测定所需的劳力、时间及成本的降低，并且能够实现测定精度及批量生产性的提高的透镜阵列及其透镜边缘检测方法。解决方案：为了能只通过从第一透镜面（4）侧的检测作业来进行在测定第一透镜面（4）及第二透镜面（6）的...
该专利属于恩普乐股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩普乐股份有限公司授权不得商用。

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