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下载分析装置以及分析方法的技术资料
文档序号:8686690
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一种对被检体的状态进行分析的分析装置(1),包括:调温部(1c),通过对被检体进行冷却,来降低被检体的温度;光源(1a),通过使光照射到被检体,对由调温部(1c)冷却了的被检体的至少一部分进行加热;第一温度计测部(1b),计测因光源(1a)...
该专利属于松下电器产业株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过松下电器产业株式会社授权不得商用。
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