温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种NMOS形成方法及CMOS形成方法,其中NMOS形成方法包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面依次形成有栅介质层和栅多晶硅层;所述半导体衬底表面、栅介质层和栅多晶硅层的两侧形成有侧墙;在半导体衬底表面形成金属层,所述金属层覆盖侧墙、栅...该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种NMOS形成方法及CMOS形成方法,其中NMOS形成方法包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底表面依次形成有栅介质层和栅多晶硅层;所述半导体衬底表面、栅介质层和栅多晶硅层的两侧形成有侧墙;在半导体衬底表面形成金属层,所述金属层覆盖侧墙、栅...