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一种利用CdTe量子点荧光探针检测痕量土霉素的方法技术
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下载一种利用CdTe量子点荧光探针检测痕量土霉素的方法的技术资料
文档序号:8655092
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本发明公开了一种利用CdTe量子点荧光探针检测痕量土霉素的方法。以CdTe量子点为荧光探针,利用土霉素与CdTe量子点通过静电相互作用结合形成新的复合体系,造成CdTe量子点荧光发生猝灭,从而建立了一种测定痕量土霉素的方法。CdTe量子点荧...
该专利属于桂林理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过桂林理工大学授权不得商用。
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