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一种半导体厚金属结构的制作方法,包括厚金属沉积步骤、金属图形化步骤以及钝化步骤,其中在厚金属沉积步骤中,采用Ti-TiN叠层结构作为抗反射层,实现4um金属腐蚀无残留。在金属图形化步骤中,采用N2进行侧壁保护,实现4um金属凹凸结构倾斜角度...该专利属于无锡华润上华半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡华润上华半导体有限公司授权不得商用。
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一种半导体厚金属结构的制作方法,包括厚金属沉积步骤、金属图形化步骤以及钝化步骤,其中在厚金属沉积步骤中,采用Ti-TiN叠层结构作为抗反射层,实现4um金属腐蚀无残留。在金属图形化步骤中,采用N2进行侧壁保护,实现4um金属凹凸结构倾斜角度...