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本发明提供一种偏光膜的裁切方法及裁切系统，该方法包含以下步骤：(1)提供具有保护膜的偏光膜卷料；(2)定位偏光膜卷料上裁切区及所对应的检测区；(3)移除检测区的保护膜；(4)量测检测区的吸收轴角度，取得复数个吸收轴角度信息；(5)传送吸收轴...
该专利属于明基材料有限公司;明基材料股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过明基材料有限公司;明基材料股份有限公司授权不得商用。

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