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本发明提供了一种基于相变图分析的稀疏微波成像雷达性能评估方法，涉及雷达成像技术，根据稀疏微波成像雷达原理，建立以信噪比、稀疏度和采样比为坐标轴的雷达成像性能相变图；借用相变曲面刻画出稀疏微波成像雷达性能随信噪比、稀疏度和采样比的变化趋势；并...
该专利属于中国科学院电子学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院电子学研究所授权不得商用。

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