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一种用在自动测试设备中的系统。在一个实施例中，该系统包括可配置的集成电路(IC)，该集成电路可编程为提供用在自动测试设备中的测试模式。该可配置的IC包括可配置的接口核，该接口核可编程为对于被测设备(DUT)提供一个或多个基于协议的接口的功能...
该专利属于爱德万测试公司所有，仅供学习研究参考，未经过爱德万测试公司授权不得商用。

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