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本发明涉及电子设备技术领域，尤其涉及一种晶振负阻抗的检测电路和方法，通过在设置好频偏的待检测芯片的输入端和输出端之间串联可变的电阻及内阻小于该待检测芯片负性阻抗绝对值的检测晶振，给待检测芯片上电后，经过从小至大改变可变电阻阻值，当检测到待检...
该专利属于上海斐讯数据通信技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海斐讯数据通信技术有限公司授权不得商用。

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