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一种基于二端子阻抗测量模式的四端子电阻抗层析成像方法技术
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下载一种基于二端子阻抗测量模式的四端子电阻抗层析成像方法的技术资料
文档序号:8531115
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本发明公开了一种基于二端子阻抗测量模式的四端子电阻抗层析成像方法,属于电学无损检测技术领域。所述方法包括如下步骤:建立电阻抗层析成像传感器的有限元模型,计算相邻激励、相对激励或者对角线激励模式下的四端子灵敏度矩阵;继电器双T型多通道切换模块...
该专利属于北京航空航天大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京航空航天大学授权不得商用。
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