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本发明公开了一种用于RFID天线的外观缺陷检测方法，包括：摄像装置的预标定步骤；将摄像装置移动至所需位置，并通过与条形光源或背光光源之间的配合，对待检测的天线拍摄其图像；采集所拍摄的图像并对其执行边缘检测，由此获得检测图像内的天线数量并分别...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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