下载用于光学材料微区的非线性效应所引起的折射率和双折射变化的测量系统的技术资料

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本系统包括飞秒激光(FS),光子光纤(SF)以及光学系统,该光学系统包括分光元件(DW)、两个光通道(KO1,KO2)和干涉仪测量系统,特别是以位于从光学系统中产生的测量光束的光轴上的VAWI干涉仪。第一光通道(KO1)包括具有形成测量光束...
该专利属于应用光学研究所所有,仅供学习研究参考,未经过应用光学研究所授权不得商用。

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