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本发明涉及一种同轴度检测领域，尤其是涉及一种同轴度光学检测方法及装置。本发明为了克服现有的圆杆同轴度测量方法采用接触式测量和测量精度较低的缺点，本发明提供一种基于非接触测量的高精度同轴度光学检测方法，该方法可以实现非接触测量，且测量精度较高...
该专利属于中国工程物理研究院流体物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院流体物理研究所授权不得商用。

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