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用于检测被磁通量穿过的磁芯（2）的片段（L1）中的磁特征参量、尤其是磁场强度（H1）的方法，其中磁芯（2）的磁通量的一部分（18）被分叉并且至少分段地在磁旁路部分（7）中被引导，其中旁路部分（7）的磁材料不饱和，并且其中借助于传感器设备和分...
该专利属于奥地利西门子公司所有，仅供学习研究参考，未经过奥地利西门子公司授权不得商用。

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