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本发明公开了一种基于常规光学元件设计衍射光学元件的方法，用于根据常规光学元件的多个采样点处的厚度获得衍射光学元件的对应多个采样点处的设计调制厚度；衍射光学元件与常规光学元件的光学功能基本相同；对于常规光学元件的每个采样点，方法包括：对于多个...
该专利属于中国科学院物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院物理研究所授权不得商用。

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