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本发明实施例提供了一种计算集成电路模型的验证覆盖率的方法，包括：获取待验证集成电路模型的逻辑结构；根据所述逻辑结构，搜索并记录所述待验证集成电路模型中的信号路径；以及计算验证对所述信号路径的覆盖率。根据本发明实施例提供的技术方案，可以得到基...
该专利属于国际商业机器公司所有，仅供学习研究参考，未经过国际商业机器公司授权不得商用。

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