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本发明公开了一种空间高能电子和质子的探测方法，属于空间带电粒子探测领域。所述方法包括探测器和信号处理系统；所述探测器由探头、铜质外壳和底座组成，其中探头主要由挡光片S1、传感器D1、闪烁体D2、反符合闪烁体S2、光电倍增管和前置处理电路板组...该专利属于中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所授权不得商用。