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本发明提供一种对光纤耦合式激光二极管进行检查的检查方法，其特征在于，包括：光纤耦合式激光二极管设置工序，将光纤耦合式激光二极管设置在夹具上；观察光学系统设置工序，将观察光学系统设置在所述光纤耦合式激光二极管的出射光的光路的下游侧；判定工序，...
该专利属于美迪亚印刷设备（杭州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过美迪亚印刷设备（杭州）有限公司授权不得商用。

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