温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种电子元器件的底部测试方法，其特征在于：所述方法包括如下步骤：发光元件由振动盘筛选引脚向下进入直型轨道；再发光元件由真空和破坏真空的方式转移到工作转盘的吸嘴上；再是定位件从上将发光元件定位，探针从下往上，接触发光元件的引脚，通电...
该专利属于深圳市华腾半导体设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华腾半导体设备有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。