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本发明提供一种用于检测电路的系统，其包括：缺陷探测子系统；以及附加子系统，所述附加子系统可在除检测期间以外的时间内工作，用于对接受检测的电路施加时变电压并用于感测所述电路中各种不同潜在缺陷位置处的电性状态的差异。...
该专利属于烽腾科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过烽腾科技有限公司授权不得商用。

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