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本发明涉及一种测量表面上构件轮廓的方法，其包括提供基材。所述基材包含在所述基材表面上的构件。所述构件包含壁。所述基材的表面被照明。照明所述壁的边缘以测量所述构件的第一轮廓线和第二轮廓线。基于所述第一轮廓线和所述第二轮廓线来计算所述构件的轮廓...
该专利属于欧泰克应用激光科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过欧泰克应用激光科技有限责任公司授权不得商用。

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