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半导体元件制造方法技术
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文档序号:8241937
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本发明公开一种半导体元件制造方法,该制造方法包括下列步骤:提供基板,基板上方已形成硅栅极结构;对硅栅极结构的硅表面进行改性工艺,进而将该硅栅极结构的硅表面特性由疏水性改变成亲水性;于该基板上方形成掩模结构;利用已进行完改性工艺的硅栅极结构与...
该专利属于联华电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过联华电子股份有限公司授权不得商用。
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