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本发明的各种实施例提供了用于计算和/或修改飞行高度值的系统和方法。例如公开了一种用于计算飞行高度的电路，包括：所述第一模式检测电路、第二模式检测电路、所述第一模式飞行高度计算电路、第二模式飞行高度计算电路、第一平均电路、第二平均电路和组合电...
该专利属于LSI公司所有，仅供学习研究参考，未经过LSI公司授权不得商用。

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