温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种印章校验方法及其装置，装置包括：环形分布的n组光源、摄像机、控制处理电路；校验方法包括如下步骤：n组光源按时序轮流开启对印章的印模进行闪光曝光，摄像机随曝光同步拍摄，得到n幅电子图像Fi，比较n幅电子图像的明暗程度值，从中选出...
该专利属于深圳市盛视科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市盛视科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。