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本发明主要公开了一种半导体分立器件测试系统，包括主控平台系统、总线通讯系统、各个测试功能卡、显示系统。各测试功能模块独立挂置在总线通讯系统上，总线通讯系统连接到主控平台系统中，主控平台系统连接显示系统，将测试结果数据加以显示。本发明是一种自...
该专利属于绍兴文理学院所有，仅供学习研究参考，未经过绍兴文理学院授权不得商用。

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