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一种由软件控制的计算机装置和/或由专用硬件所实施的方法被设计为探测冶金容器（1）中的导电目标材料（M），例如熔化金属或半导体材料。在该方法中，在该导电目标材料（M）和一个传感器（4）之间的相对位移期间从插入到该目标材料（M）的该传感器（4）...
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