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本发明涉及一种高频超声发射器及阵列声学参数的近场校准方法，通过在高频发射器及阵列的近场获取相距很近的两个相互平行的平面上的复声压数据，采用差分近似的方法得到该位置处的质点振速分布，构建基于质点振速信息的“次级声源”，然后采用瑞利积分公式对发...
该专利属于中国船舶重工集团公司第七一五研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国船舶重工集团公司第七一五研究所授权不得商用。

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