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本发明公开一种有源天线系统无线指标的测试方法及装置，分别采用空间射频(OTA)测试对有源天线系统的空间特性进行测试；采用近场耦合方式对有源天线系统的射频指标进行测试。本发明还提出了一种近场耦合测试的装置-射频测试罩，通过这种装置可以对有源天...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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