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本发明公开了了一种可编程逻辑器件单粒子辐照性能测试系统，涉及集成电路测试技术，包括上位计算机、真空罐、粒子源、至少一层隔离墙、至少一台测量设备、电源；待测电路板包括主控制器、待测可编程逻辑器件、和可选的非易失性存储器、或随机存储器；上位计算...
该专利属于中国科学院电子学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院电子学研究所授权不得商用。

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