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本发明公开了一种在集成电路测试中用于缩短硬件木马的验证时间的方法，其中的专用结构包含一个门单元和一个多路开关；多路开关中具有测试输入信号TI和木马测试模式使能信号EN，门单元用于与被测集成电路中的目标节点进行逻辑粘合，门单元的类型由该节点出...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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