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一种阵列天线方向图的时域测量方法，属于天线技术领域。本发明首先对阵列天线单元方向图测量，利用均匀平面波照从不同角度(θ，φ)照射阵列，利用数字示波器测量各个阵列单元在平面波照射下的瞬态响应，得到该频率响应便是阵列单元在等幅同相激励下的方向图...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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