温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种量测待测物散射参数的方法，可以在不需要使用转接校正器进行全双端口校正的情况下量测两端具有不同接头规格的待测物散射参数。本发明利用两次的单端口校正程序，建立两个误差模型，其中第一个误差模型包括网络分析仪的连接端口与接线的特性，第...
该专利属于纬创资通股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过纬创资通股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。