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本发明涉及一种激光扫描位相显微成像方法及系统，它包括有荧光显微镜、激光共聚焦扫描系统和光电探测系统；将激光共聚焦扫描系统放置在荧光显微镜入光孔，将光电探测系统放置在激光共聚焦扫描系统的出光方向；调节各光学元件之间的角度；将样品切片放置在试验...
该专利属于北京大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京大学授权不得商用。

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