温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种用于在插入电流路径中的场效应晶体管(FET)的协助下测量电流(IM)的方法,其中在晶体管(FET)的栅极(g)与源极(s)之间施加控制电压(Ugs),以使漏极(d)与源极(s)之间横跨晶体管(FET)的电压降(Uds)在电流...该专利属于马格纳斯泰尔汽车技术两合公司所有,仅供学习研究参考,未经过马格纳斯泰尔汽车技术两合公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种用于在插入电流路径中的场效应晶体管(FET)的协助下测量电流(IM)的方法,其中在晶体管(FET)的栅极(g)与源极(s)之间施加控制电压(Ugs),以使漏极(d)与源极(s)之间横跨晶体管(FET)的电压降(Uds)在电流...