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本发明揭露一种藉由在高速下测试与分类电光装置(52)的电性与光学特性两者的改良方法与装置。电光装置(52)，尤其是发光二极管，其藉由单一化装置(14)被单一化并且被传送到线性轨道(12)，它们在此处测试(20)电性与光学特性。该些装置随后依...
该专利属于伊雷克托科学工业股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过伊雷克托科学工业股份有限公司授权不得商用。

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