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本发明涉及一种对焦机构包含基座、设置于该基座上的对焦群框、致动该对焦群框相对该基座滑移的致动单元，及用于检测该对焦群框位置的检测单元，该致动单元包括设置于该基座的线圈，及设置于该对焦群框的致动磁石，该检测单元包括设置于该基座的霍尔组件，及设...
该专利属于亚洲光学股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过亚洲光学股份有限公司授权不得商用。

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