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本发明为基于Etalon的激光波长/频率的测量方法、波长计及使用方法。本测量方法为Etalon折射率n、表面间距l和入射角度θ中的1个或2个参数固定、改变另外2个或1个参数，得到N种不同的Etalon，使用标准激光器扫描得到N组不同传输效率...
该专利属于桂林优西科学仪器有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过桂林优西科学仪器有限责任公司授权不得商用。

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